de Campos, T. C. e Gabaldi, V. M. (2025) “O estresse enfrentado pelos profissionais da área de Tecnologia da Informação ”, Revista V@rvItu | Fatec ITU, (03), p. 21. Disponível em: https://revistavarvitu.com.br/revista-varvitu/article/view/104 (Acessado: 12 janeiro 2026).